無(wú)菌導絲抗彎曲破壞測試儀

無(wú)菌導絲抗彎曲破壞測試儀

無(wú)菌導絲抗彎曲破壞測試儀采用7寸威綸通液晶觸控顯示屏，中英文菜單顯示。公稱(chēng)規格、設定載荷、打印設定、測試、上行、下行、時(shí)間、標定。由鍵盤(pán)與觸摸控制液晶顯示屏上的菜單，機載打印測試結果。*符合YY0450.1-2020標準中相關(guān)條款設計制造。

技術(shù)指標：

公稱(chēng)規格：根據客戶(hù)要求

圓柱體直徑：1-30MM，精度：±1%；

兩個(gè)圓柱體距離：1D-3D之間（單位MM）

設定時(shí)間:1s～60min, 客戶(hù)任意設置，精度：0.2S

儀器Z身免F依標準：規定升級服務(wù)。

設備免費保修期為1年。

附錄G(規范性附錄)

導絲的抗彎曲破壞試驗方法

G.1 原理

導絲的試驗部分反復承受反向彎曲和伸直, 然后檢查損壞和涂層剝落。

G.2儀器

試驗裝置,由兩個(gè)剛性圓柱體組成其直徑為導絲最大外徑D(見(jiàn)82)的20倍, 在定位時(shí)應使兩模型之間有一為導絲最大外徑1倍~3倍的縫隙。見(jiàn)圖G1。用適當的基于風(fēng)險的臨床論證對器械的每一部分進(jìn)行試驗時(shí)，可使用不同直徑的圓柱體。

G.3 程序

G.3.1 末端試驗

G311選擇導絲末端部分作為試驗段試驗段包括離芯絲末端部約5mm的芯絲部分。

G312將導絲末端的這部分彎曲繞在試驗裝置(G2)的一個(gè)圓柱體上,并沿相反方向繞在第二個(gè)圓柱體上。(見(jiàn)圖G1)

G313將導絲從圓柱體上取下使其伸直重復彎曲與伸直程序共20個(gè)循環(huán)。檢查由彎曲過(guò)程產(chǎn)生的缺陷和損壞。另外檢查帶涂層導絲上涂層的剝落痕跡。

G.32導絲的試驗,不包括末端

選擇導絲上不包括鄰近端或末端的部分,進(jìn)行G312和G313的試驗程序。

G.4 試驗報告

試驗報告應包括下列信息:

a) 導絲的識別;

b)芯絲連接點(diǎn)的任何損壞而造成的自由伸展或導絲的任何部分分離為兩段或多段損壞的描述;

c)涂層導絲是否有任何涂層剝落的描述;

d)如果直徑產(chǎn)生了偏離適當的基于風(fēng)險的臨床論證。